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2024-11-14
2024-11-06
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高功率紅外微波少子壽命測試是通過光電導衰減、電阻率分析等技術手段,評估半導體材料中非平衡載流子復合速率的檢測方法。該方法采用準穩(wěn)態(tài)光電導(QSSPC)、高頻光電導衰減(HF-PCD)等獨特原理,可靈敏檢測硅材料的重金屬污染、陷阱效應及表面復合缺陷。在半導體制造領域,該技術應用于硅棒切片、擴散工藝及太陽能電池生產的工藝監(jiān)控,通過分析開路電壓曲線與載流子濃度變化優(yōu)化制造參數。
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廠商性質:生產廠家
更新時間:2025-11-01
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高功率紅外微波少子壽命測試是通過光電導衰減、電阻率分析等技術手段,評估半導體材料中非平衡載流子復合速率的檢測方法。該方法采用準穩(wěn)態(tài)光電導(QSSPC)、高頻光電導衰減(HF-PCD)等獨特原理,可靈敏檢測硅材料的重金屬污染、陷阱效應及表面復合缺陷。在半導體制造領域,該技術應用于硅棒切片、擴散工藝及太陽能電池生產的工藝監(jiān)控,通過分析開路電壓曲線與載流子濃度變化優(yōu)化制造參數。測試儀器的核心模塊包含高頻信號源、同步控制電路與數據采集系統(tǒng),支持非接觸式測量與批量樣品分析。
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